Azərbaycanca
Deutsch
日本語
Lietuvos
සිංහල
Türkçe
Українська
United State
Bir reflektron (kütle reflektronu), darbeli bir iyon kaynağı, alansız bölge, iyon aynası ve iyon dedektörü içeren ve içine giren iyonların hareket yönünü tersine çevirmek için iyon aynasında bulunan statik veya zamana bağlı bir elektrik alanı kullanan bir uçuş zamanı kütle spektrometresidir (TOF MS).
Geliştirme
İyonların elektrik alanını geciktiren bir bölgeden yansımasını (iyon aynası) uygulayarak TOF MS'de kütle çözünürlüğünü geliştirme fikri ilk olarak Rus bilim adamı SG Alikhanov tarafından önerildi. 1973'te, laboratuvarında, iki homojen alanlı bir iyon aynası kullanan çift aşamalı bir reflektron yapıldı. Reflektronun geniş kütle aralığında ölçülen kütle çözünürlüğü, darbeli bir iyon kaynağı, uçuş tüpü ve iyon detektörü içeren daha basit (doğrusal denilen) uçuş zamanı kütle spektrometresindekinden çok daha büyüktür. Reflektronda analiz edilen iyon kütleleri birkaç Dalton ile birkaç milyon Dalton arasında değişebilir. Fotoiyonizayon veya elektron iyonizasyonuyla, örneğin (matris destekli lazer desorpsiyon/iyonizasyon) kaynağı, vakumda üretilen iyonların analizi için kullanılan reflektrondaki duyarlılık kaynak sonrası bozulma nedeniyle doğrusal TOF MS'dekinden daha düşük olabilir.
Kaynakça
- ^ Alikhanov (1957). "A new impulse technique for ion mass measurement". Sov. Phys. JETP. 4: 452.
- ^ Mamyrin (1973). "The mass-reflectron, a new nonmagnetic time-of-flight mass spectrometer with high resolution". Sov. Phys. JETP. 37: 45.
- ^ Mamyrin (22 Mart 2001), Time-of-flight mass spectrometry (concepts, achievements, and prospects), 206 (3), ss. 251-266, doi:10.1016/S1387-3806(00)00392-4
Konuyla ilgili yayınlar
- Cotter, Robert J. (1994), Time-of-flight mass spectrometry, Columbus, OH: American Chemical Society, ISBN
- Anna Radionova, Igor Filippov, Peter J Derrick (2015), "In pursuit of resolution in time-of-flight mass spectrometry: A historical perspective", Mass Spectrometry Reviews, Wiley Periodicals, Inc., Mass Specrometry Reviews, 35 (6), ss. 738-757, Bibcode:2016MSRv...35..738R, doi:10.1002/mas.21470, (PMID) 25970566
· ·
Dış bağlantılar
- Kore Technology – Introduction to Time-of-Flight Mass Spectrometry 4 Ağustos 2020 tarihinde Wayback Machine sitesinde .
wikipedia, wiki, viki, vikipedia, oku, kitap, kütüphane, kütübhane, ara, ara bul, bul, herşey, ne arasanız burada,hikayeler, makale, kitaplar, öğren, wiki, bilgi, tarih, yukle, izle, telefon için, turk, türk, türkçe, turkce, nasıl yapılır, ne demek, nasıl, yapmak, yapılır, indir, ücretsiz, ücretsiz indir, bedava, bedava indir, mp3, video, mp4, 3gp, jpg, jpeg, gif, png, resim, müzik, şarkı, film, film, oyun, oyunlar, mobil, cep telefonu, telefon, android, ios, apple, samsung, iphone, xiomi, xiaomi, redmi, honor, oppo, nokia, sonya, mi, pc, web, computer, bilgisayar
Bir reflektron kutle reflektronu darbeli bir iyon kaynagi alansiz bolge iyon aynasi ve iyon dedektoru iceren ve icine giren iyonlarin hareket yonunu tersine cevirmek icin iyon aynasinda bulunan statik veya zamana bagli bir elektrik alani kullanan bir ucus zamani kutle spektrometresidir TOF MS Reflektronun ucus tupune solda bagli bir iyon aynasi sagda Bir metal plaka yiginina uygulanan gerilimler iyonlari ucus tupune geri yansitan elektrik alanini olusturur GelistirmeYansimada daha yuksek enerjili iyon kirmizi daha uzun bir yol alir ancak ayni kutlenin daha dusuk enerjili iyonu mavi ile ayni anda detektore ulasir Iyonlarin elektrik alanini geciktiren bir bolgeden yansimasini iyon aynasi uygulayarak TOF MS de kutle cozunurlugunu gelistirme fikri ilk olarak Rus bilim adami SG Alikhanov tarafindan onerildi 1973 te laboratuvarinda iki homojen alanli bir iyon aynasi kullanan cift asamali bir reflektron yapildi Reflektronun genis kutle araliginda olculen kutle cozunurlugu darbeli bir iyon kaynagi ucus tupu ve iyon detektoru iceren daha basit dogrusal denilen ucus zamani kutle spektrometresindekinden cok daha buyuktur Reflektronda analiz edilen iyon kutleleri birkac Dalton ile birkac milyon Dalton arasinda degisebilir Fotoiyonizayon veya elektron iyonizasyonuyla ornegin matris destekli lazer desorpsiyon iyonizasyon kaynagi vakumda uretilen iyonlarin analizi icin kullanilan reflektrondaki duyarlilik kaynak sonrasi bozulma nedeniyle dogrusal TOF MS dekinden daha dusuk olabilir Kaynakca Alikhanov 1957 A new impulse technique for ion mass measurement Sov Phys JETP 4 452 Mamyrin 1973 The mass reflectron a new nonmagnetic time of flight mass spectrometer with high resolution Sov Phys JETP 37 45 Mamyrin 22 Mart 2001 Time of flight mass spectrometry concepts achievements and prospects 206 3 ss 251 266 doi 10 1016 S1387 3806 00 00392 4 Konuyla ilgili yayinlarCotter Robert J 1994 Time of flight mass spectrometry Columbus OH American Chemical Society ISBN 0 8412 3474 4 Anna Radionova Igor Filippov Peter J Derrick 2015 In pursuit of resolution in time of flight mass spectrometry A historical perspective Mass Spectrometry Reviews Wiley Periodicals Inc Mass Specrometry Reviews 35 6 ss 738 757 Bibcode 2016MSRv 35 738R doi 10 1002 mas 21470 PMID 25970566 KB1 bakim Birden fazla ad yazar listesi link Dis baglantilarKore Technology Introduction to Time of Flight Mass Spectrometry 4 Agustos 2020 tarihinde Wayback Machine sitesinde